하이/로우인덕턴스테스트기술을결합한浓度19301一个임펄스와인딩테스터는0.1哦~ 100呃의폭넓은인덕턴스범위와최대1000 v의임펄스전압및200 mhz의고속샘플링속도를갖추었으며,파워인덕터제품에대한대부분의테스트요구사항을충족합니다。장비에내장된구역크기비교,차등구역비교,플러터값,라플라시안값,Δ피크또는Δ피크율,피크율및Δ공진구역기능은코일의절연불량여부를효과적으로검사할수있습니다。
생산에대한운드컴포넌트검사에는전기안전표준에대한전기적특성시험및내전압시험이포함되어있습니다。코일절연불량은레이어합선및(혹은)출력핀과회로간의합선에의해일어나는일반적인문제로,설계불량,몰딩공정불량또는절연체의열화로인해발생할수있습니다。따라서모든와인딩컴포넌트(혹은코일)은레이어단락테스트를수행해야합니다。
운드컴포넌트테스트를위해특별히설계된19301一个는고전압및저정전용량커패시터(저용량테스트에너지)를코일과병렬로연결하여댐핑이라고하는RLC공진을형성합니다。고속,고정밀,정확한샘플링을갖춘분석기술을통한파형감쇠분석으로코일내절연불량상태를성공적으로감지할수있습니다。이는파워인덕터코어에서와인딩품질테스트및내전압테스트를제공할뿐만아니라제조업체및사용자가와인딩컴포넌트제품을보다효율적으로확인할수있게해줍니다。
19301一个는낮은인덕턴스와인딩컴포넌트를0.1呃의최소인덕턴스로테스트하는데사용할수있습니다。DUT의인덕턴스변동또는등가와이어인덕턴스로인해발생한테스트전압의총부정확성을방지하기위해낮은인덕턴스와인딩컴포넌트테스트용전압보상,인덕턴스확인,접점체크및4단자(4선)측정을제공하며,이러한기능덕분에19301一个는낮은인덕턴스와인딩컴포넌트를위한최고의임펄스와인딩테스트도구입니다。
19301一个는자동화생산에서테스트시간을단축하고생산성을높일수있는극도로높은테스트속도를갖추고있습니다。또한전압보상기능으로자동화기구에서배선의등가인덕턴스의영향을줄입니다。
새로운휴먼머신인터페이스에는다채로운색상의디스플레이와화면캡처기능이있습니다。파형스크린샷은현장생산에적합할뿐만아니라연구개발및품질보증에서도분석및비교가가능한형태로기기전면의USB포트를통해저장할수있으며,이는작업의편의성을높여줍니다。
측정기술
임펄스테스트의소개및이론
임펄스와인딩테스트는DUT에비파괴,고속및저에너지임펄스전압을적용합니다。커패시터(Cs)와운드컴포넌트는병렬로RLC회로에임펄스전압이인가될때RLC공진을생성하는RLC회로를형성합니다。댐핑이라고도하는진동의감쇠를관찰함으로써절연체,인덕턴스및병렬등가정전용량(Cw)를포함한운드컴포넌트의제조공정상태를파악할수있습니다(그림1:등가회로테스트다이어그램참조)또한테스트파형을분석하고비교함으로써양호하거나결함이존재하는제품을가려낼수있습니다。임펄스와인딩테스트의주요목적은가능한한빨리운드컴포넌트의잠재적결함을찾는것으로,예를들어와이어간레이어단락,용접불량(융접부족),내부코일또는코어의절연불량등이있습니다。
 ▲그림1:등가회로 |
 ▲그림2:西弗吉尼亚州테스트 |
Rp체크
피크율과Δ피크또는Δ피크율은浓度의고유한테스트기술입니다。테스트를수행하기전에운드컴포넌트의에나멜절연와이어사이의단락또는큰코어손실로인해问값이떨어질수있습니다(작은Rp)。
파괴전압(击穿电压)테스트모드에서는피크율로DUT의병렬저항(Rp)의변화를감지하여Rp의이상또는열화를검사할수있습니다。내전압테스트를수행하고스위치를열면(SW1)측정에서피크율을계산하는데,이비율은진동전압파형의첫번째피크값과두번째피크값의비율입니다。전압이지속적으로증가함에따라피크율은이상또는열화로인한의卢比변화를검사하여파괴전압(击穿电压)또는열화전압(DTR.V)을찾을수있습니다。피크율이클수록Rp값이크며이는问값이더크다는의미이기도합니다。
임펄스와인딩테스트(IWT)모드에서는테스트제품의피크율을알려진정상제품과비교하여불량을검출하기위해Δ피크또는Δ피크율을사용할수있습니다。내전압테스트를수행하고스위치를열면(SW1) DUT와샘플의피크율을사용하여Δ피크또는Δ피크율을계산합니다。이값은DUT와샘플간의피크율차이또는감쇠율의DUT와샘플간의피크율차이로결함제품을감지하는데사용할수있습니다。
▲그림3:西弗吉尼亚州테스트및피크율파형
파형판정모드
- 구역크기:이기능은샘플링된파형의총구역크기와DUT의테스트파형을비교합니다。구역크기는코일의절연에의해영향을받습니다。코일의절연상태가좋지않으면파형이빠르게감쇠하여기준보다구역크기가작아집니다。
- 차등구역:이기능은점대점비교를통해샘플파형과DUT에서테스트파형사이에생성된차등구역을계산합니다。차등구역테스트의결과는표본과DUT사이의인덕턴스차이와관련이있습니다。인덕턴스의차이로인해진동주파수가달라지고샘플파형과테스트파형사이에차등구역이생성됩니다。인덕턴스의차이가클수록생성된차등구역은커집니다。
- 플러터감지:이기능은첫번째파생모델을사용하여파형의기울기합계를나타내는플러터값을계산합니다。이값은DUT의플러터값과샘플의플러터값을비교하여DUT에서방전이발생했는지여부를확인합니다。테스트중에방전이된경우DUT의플러터값이샘플의값보다큽니다。
- 라플라시안값:이기능은두번째파생모델을사용하여파형의변화하는기울기또는곡률/오목성을나타내는라플라시안값을계산합니다。값이양수이면곡선이위로오목하게됩니다。값이음수이면곡선이아래로오목하게됩니다。그런다음DUT의라플라시안값과샘플의라플라시안값을비교합니다。이값은전기방전또는전극용접불량으로인한파형의급격한변화를효과적으로감지할수있습니다。
 ▲그림4:구역크기 |
 ▲그림5:차등구역 |
 ▲그림6:방전파형의플러터및라플라시안 |
- 피크율:击穿电压테스트모드에서19301一个는DUT에서공진파형의1차및2차진폭을사용하여두번째피크값에대한첫번째피크값의피크율을계산합니다。또한허용범위내에서테스트전압을증가시켜DUT가과도하게열화되었는지여부를판단합니다。또한DUT의열화전압/파괴전압을분석하는데도사용할수있습니다。
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 ▲그림7:피크율 |
- Δ피크/Δ피크율:IWT테스트모드에서19301一个는Δ피크또는Δ피크율을계산하기위해DUT와샘플공진파형의피크율을비교합니다。DUT에서샘플까지의피크율이같으면Δ피크또는Δ피크율이가0%됩니다。Δ피크는DUT와샘플간의피크율차이입니다。Δ피크율은DUT와샘플간의피크율의차이를샘플의감쇠율로나눈값입니다。작업자는Δ피크또는Δ피크율의상한과하한을사용하여샘플과유의미한차이가있는불량품을선별하기위한허용범위를설정할수있습니다。
- Δ공진구역:IWT테스트모드에서스위치를연후(SW1) 19301는구역크기기능과마찬가지로DUT의공진파형의총구역을샘플과비교합니다。공진구역의크기는코일의절연과관련이있습니다。코일의절연상태가좋지않으면파형이빠르게감쇠하여공진구역이샘플인잘절연된코일보다작아집니다。
▲그림8:공진구역
낮은인덕턴스임펄스테스트기술
浓度19301一个는낮은인덕턴스운드컴포넌트를테스트하기위해특별히개발되었습니다。최소인덕턴스0.1呃인가운드컴포넌트에레이어단락테스트를적용할수있습니다。낮은인덕턴스DUT에대한테스트는일반적인인덕턴스제품과다릅니다。DUT낮은인덕턴스때문에는테스트회로배선에서발생하는등가인덕턴스에쉽게영향을받아테스트전압이테스트회로에분산되어실제DUT의테스트전압이설정된전압보다훨씬낮습니다。또한낮은인덕턴스를가진파워초크의작동전압이낮기때문에일반적으로임펄스테스트전압은일반적인인덕턴스제품보다낮습니다。
저전압범위
스마트폰내부의파워초크등인덕턴스제품이낮은작동전압과부피가작아테스트전압은상대적으로낮습니다。따라서낮은인덕턴스제품을테스트하기위한임펄스테스트장비는파형을분석하기위해낮은전압범위를가져야합니다。50浓度19301는25 v, v, 100 v、200 v、400 v、800 v、1000 v의7가지전압범위를지원합니다。0.06 v의최저전압분해능과10 v의최소테스트전압은파형식별기능을향상시킵니다。
 ▲그림9:浓度19301임펄스와인딩테스터 |
 ▲그림10:일반임펄스테스터 |
4단자측정
일반2와이어단락테스트장비의전압계/센서는전압측정을위한전류루프내부에있으므로측정된전압과DUT의실제전압간에큰차이가발생합니다。浓度19301는4단자측정이라고도하는이중동축4와이어감지를사용하여전압정확도를크게향상시켜보다정확한테스트결과를얻을수있습니다。
▲그림11:4단자측정다이어그램
접촉확인(특허I516773):
浓度19301一个가는19301고전압출력을발생시켜고정장치또는프로브에아크를발생시키고DUT에손상을주는접촉불량또는단선을방지하기위해테스트전에고정장치또는프로브의사용수명을연장할수있는접촉체크를수행합니다。
전압보상(특허I516773):
일반적으로변압기와같은높은인덕턴스운드컴포넌트에대한테스트에서배선의등가인덕턴스효과는상대적으로작습니다。그러나낮은인덕턴스(0.2呃등)의운드컴포넌트를테스트할때DUT의실제테스트전압은배선의등가인덕턴스에의해쉽게영향을받을수있습니다。배선의영향을줄이는것은특히자동화테스트에서중요한설계문제입니다。배선의임피던스가너무크면테스트전압이와이어에분산되어DUT의실제테스트전압이설정된전압보다훨씬낮아지고불량제품검사가비효율적이게됩니다。
또한운드컴포넌트에대해지정된인덕턴스의허용오차는±30%일수있습니다。따라서DUT의차동인덕턴스에의해발생하는실제테스트전압의차이는낮은인덕턴스운드컴포넌트테스트에서더욱뚜렷하게나타납니다。이로인해구역크기기능이유효하지않거나테스트전압이요구사항을충족하지못할수있습니다。浓度19301一个는차동인덕턴스에대한전압보정기능을지원함으로써위의문제를해결하고차동인덕턴스에의한실제테스트전압의차이를줄여오판의가능성을줄입니다。
일반적으로인덕턴스(Lx)가있는DUT는출력전압(V)을나누는테스트회로배선의등가인덕턴스(Li & Lw)와직렬로연결됩니다。DUT의전압(Vx)이출력전압(V)보다작습니다。DUT의전압(Vx)을계산하는등가공식이오른쪽에표시됩니다。
 ▲그림12:전압보정을위한등가회로 |
 ▲그림13:보정전압미사용시 |
 ▲그림14:보정전압사용시 |
응용분야
높은&낮은인덕턴스제품테스트
19301一个는낮은인덕턴스제품테스트기술뿐만아니라하이인덕턴스제품테스트도포함합니다。인덕턴스값이0.1哦~ 100呃인제품을테스트할수있으며샘플이인덕턴스에대해측정되면19301一个는샘플및테스트의측정에따라자동으로적절한범위로전환됩니다。그런다음이파형샘플은DUT와비교하여DUT에적절한파형이있는지확인하는데사용됩니다。이것은운영자에게매우편리한기능입니다。하이인덕턴스및로우인덕턴스테스트기술을싱글레이어단락테스터에결합하면생산라인의전환시간이단축될뿐만아니라공장의설비/장비비용도절감됩니다。
B.D.V——파괴전압
19301一个에는파괴전압분석이내장되어있습니다。각단계사이의시작전압,종료전압및백분율은파괴전압(击穿电压)테스트모드에서설정할수있습니다。테스트전압은각단계에서증가하지만구역크기,라플라시안및피크율기능을사용하여테스트코일의내전압을찾기위해각기능의결과가지정된한계를초과하는지여부를판단할수있습니다。또한열화감지기능을사용하여열화전압(DTR.V)을찾을수도있습니다。研发엔지니어는제품을분석및연구할수있으며,击穿电压테스트모드에서이러한기능을사용하여코일설계의단점을개선할수있습니다。
열화점분석
击穿电压테스트모드에서19301一个는피크율의변화를활용하여DUT가열화되기시작하는지여부를감지합니다。DUT가열화되기시작하면피크율이감소합니다。피크율의연속감쇠시간은3 ~ 5회까지설정할수있으며DUT의열화전압(DTR.V)을검출하는데사용할수있습니다。
일시중지
击穿电压테스트모드에서는작업자가일시중지기능을활성화할수있습니다。이기능은[开始]키를누를때마다19301一个가한번에한단계씩테스트를수행하도록합니다。각테스트단계가완료된후[开始]키를다시눌러다음단계를시작할때까지테스트가일시중지됩니다。이기능은각단계간에다른분석또는테스트를위해DUT를이동해야할때사용할수있으며,다음단계에서击穿电压검사를계속하기위해반환됩니다。
▲그림16:일시중지기능및스크린샷
스크린샷
이기능을사용하면단축키를눌러현재화면디스플레이를캡처할수있습니다。캡처된화면은19301一个에연결된USB저장소에저장됩니다。
데이터내보내기
이기능은현재테스트결과를내보내고19301一个에연결된USB저장소에저장합니다。이를통해작업자는각테스트결과의데이터를분석할수있습니다。데이터파일의형식은CSV(쉼표로구분된값)입니다。
고속자동테스트애플리케이션
낮은인덕턴스제품은스마트폰,태블릿PC등에사용되기때문에인덕터의크기가더작고얇고가벼운경향이있습니다。이러한인덕터생산에는생산속도가빠른완전자동화테스트및패킹기계가사용됩니다。따라서빠른생산속도를만족시키기위해서는고속테스트장비가필요합니다。浓度19301一个는고속테스트를제공하고이중동축4와이어감지(4단자측정)를사용하여배선길이의영향을줄입니다。이기능은고객에게더큰이점을제공하기위해자동화된레이어테스트기계와완벽하게연동할수있습니다。고속테스트의가장짧은시간이18女士로개선되어자동화생산량역시상당히높일수있습니다。
SMA파워초크테스트고정부
낮은인덕턴스파워초크의크기는매우작습니다。色度는4단자측정고정부(특허)를개발하여,SMD파워초크에대해인덕턴스차이에의한전압보상에대해작업할수있으며,이를통해研发엔지니어,제품개발자및QA직원의테스트효율을향상시켰습니다。
▲그림17:SMD파워초크테스트고정부(A193001)