Chroma 19501-K局部放电测试仪集Hipot测试和PD(局部放电)检测器功能于一体。该设备最大交流输出10kV，泄漏电流测量范围为0.01uA ~ 300uA，局部放电检测最小为1pC。该测试仪是专门为测试高电压半导体元件和高绝缘材料而开发的。19501-K设计符合IEC 60270-1和IEC 60747-5-5标准，并内置了IEC 60747-5-5测试方法。不仅满足了光耦合器产品的生产测试要求，而且为用户提供了友好、方便的操作界面。亚博app下载网址
在生产线上进行Hipot测试时，被测件与测试电路连接不良，会导致测试失败或被绕过。因此，在测试前确保被测部件与测试电路之间的连接状态良好是非常重要的。对于高绝缘元件，HVCC (High Voltage Contact Check)功能采用开尔文试验方法，在Hipot试验的同时进行接触检查，提高了试验的可靠性和效率。
局部放电测试仪19501-K/19500系列
주요특징
- 内置Hipot测试和PD检测功能于一体
- 可编程电压输出:0.1KVac~10KVac
- 高精度分辨率电流表:0.01uA~300uA
- PD(局部放电)检测范围:1pc ~ 2000pc
- 高压触点检测功能(HVCC)
- 符合IEC60747-5-5和IEC 60270-1标准
- 内置IEC60747-5-5测试方法
- 3级电压测试功能
- PD测试结果数字显示[pC]
- PD缺陷发生设定用于判断(1~10)
- 图形编辑功能
- USB截屏功能
- 英文及简体中文/繁体中文操作界面
- 标准USB, LAN, RS-232和处理器接口