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SoC테스트시스템
고급soc /아날로그테스트시스템
3680型
- 응용응용지원범위：MCU，디지털디지털，DTV，STB，DSP，네트워크프로세서및필드，FPGA
- 디지털，아날로그아날로그및혼합신호신호응용에에대해대해교체가능슬롯
- 150Mbps〜1Gbps데이터속도（다중사용됨）
SoC /아날로그테스트시스템
3650型
- 응용분야지원범위：MCU，ADDA /메모리，컨트롤러，PMIC및및모든종류의의
- 최대640채널로확장가능한한
- 50 / 100MHz，200MHz（MUX）테스트테스트
- 다양다양한고밀도，아날로그，adda，혼합신호부터tia까지지원
vlsi테스트시스템
vlsi테스트시스템
型号3380P.
- 100MHz클럭클럭，512 I / O채널（최대576핀）
- 최대512사이트병렬식병렬식
- 다양한vi소스
- 유연한아키텍처：슬롯교체가능I / O，ADDA，VI소스
vlsi테스트시스템
3380型
- 100MHz클럭속도，1024 I / O채널（최대1280핀）
- 최대1024사이트병렬식테스트
- 다양한vi소스
- 유연한아키텍처：슬롯교체가능I / O，ADDA，VI소스
IC픽및플레이스스
3중온도쿼드사이트핸들러
3160-C.
- 고급열기능（Nitro Tec）
- 더빠른인덱스시간0.6초
- 능동열제어및전체범위온도
- 챔버리스설계
- 여러사이트（싱글，듀얼또는쿼드테스트사이트）지원
하이브리드싱글사이트테스트테스트
3110型
- 선택선택인3중온도IC테스트기능（표준：-40℃〜135℃，옵션：-55℃〜150℃）
- FT + SLT핸들러 - 투인원
- 기기기기엔지니어링특성수집수집및분석매우매우
- 자동트레이부하/하적및기기정렬기능
- 대기시간이없는없는
다이테스트핸들러
3112型
- 신뢰할수있는픽앤플레이스베어이테스트테스트
- 멀티플레이트입력입력및및자동화자동화정렬정렬
- 전방향조절가능프로브프로브이지（x / y / z /）
- 스테이지잔류이확인확인
자동시스템기능테스터
模型3260.
시스템 레벨에서 높은 볼륨/멀티 사이트 IC 테스트를 수행하기에 적합한 혁신적인 핸들러입니다.-40°C〜125°C범위범위atc고온에서병렬식최대최대최대최대최대최대최대최대최대테스트。
계측시스템
3D晶圆测量系统
7980型
이시스템은백색광간섭측정기술사용하여비파괴이고신속신속한표면프로필측정측정을수행하며하며하며하며하며수행수행하며하며수행수행수행수행수행수행수행수행수행수행수행수행수행수행수행수행수행수행수행수행수행
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