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超大规模集成电路테스트시스템 3380P型
超大规模集成电路테스트 시스템
3380P型
  • 100Mhz클럭 속도, 512 I/O채널(최대 576핀)
  • 최대 512사이트 병렬식 테스트
  • 다양한 六、소스
  • 유연한 아키텍처: 슬롯 교체 가능 I/O、ADDA、VI소스
超大规模集成电路테스트시스템 3380型
超大规模集成电路테스트 시스템
3380型
  • 100Mhz클럭 속도, 1024 I/O채널(최대 1280핀)
  • 최대 1024사이트 병렬식 테스트
  • 다양한 六、소스
  • 유연한 아키텍처: 슬롯 교체 가능 I/O、ADDA、VI소스
고전압장치전원공급 33021型
  • PXI系统联盟
고전압 장치 전원 공급
33021型
  • 카드당 2.개의 채널로 최대 48V直流电출력
범용릴레이드라이버컨트롤 33011型
  • PXI系统联盟
범용 릴레이 드라이버 컨트롤
33011型
  • 반도체 로드 보드용 PXI-e기반 범용 릴레이 컨트롤
  • 32CH다이렉트 릴레이 드라이버
  • 2.레인 SPI릴레이 제어 인터페이스
고속PXIe디지털木卫一카드 33010型
  • PXI系统联盟
고속 PXIe디지털 木卫一카드
33010型
  • 표준 PXIe버스 커넥터
  • 최대 클럭 속도 100MHz
  • 보드당 32채널