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SoC測試系統

先進SoC /模擬測試系統Model3680
  • 台湾2022年卓越
先進SoC /模擬測試系統
型号3680
  • 24個可互換插槽,用於數字、模擬和混合信號應用
  • 150 Mbps數據速率(mux模式最高最高1 gbps)
  • 最高512网站並行測試
  • 多達2048個數字通道管腳
SoC /模拟測試系統Model3650
SoC /模拟測試系統
型号3650
  • 应用范围:MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC,以及各种消费类产品
  • 可扩展平台,多达640个通道
  • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX)测试速率
  • 各种高密度选项,从模拟,ADDA,混合信号,TIA
SoC /模拟測試系統Model3650-EX
SoC /模拟測試系統
模式3650 -前
  • 应用范围:MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC,以及各种消费类产品
  • 可扩展平台,多达1024个IO通道和96个DPS
  • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX)测试速率
  • 多种高密度选项包括VI45, PVI100, HDADDA和MRX

VLSI測試系統

VLSI測試系統Model3380P
VLSI測試系統
模型3380便士
  • 50/100 MHz測試頻率50/100 Mbps數據速率
  • 512數字通道管腳 (最高可至 576數字通道管腳)
  • 並行測試可達512网站同測數
  • 多樣彈性VI電源
VLSI測試系統Model3380D
VLSI測試系統
模型3380 d
  • 50/100 MHz測試頻率50/100 Mbps數據速率
  • 256數字通道管腳
  • 並行測試可達256网站同測數
  • 多樣彈性VI電源
VLSI測試系統Model3380
VLSI測試系統
型号3380
  • 50/100 MHz測試頻率50/100 Mbps數據速率
  • 1024年我數字通道管腳(最高1280數字通道管腳)
  • 高達1024网站並行測試
HighVoltageDevicePowerSupply Model33021
  • PXI系统联盟
高压设备电源
型号33021
  • 最大48V直流输出,每卡2通道
PXIeProgrammableDevicePowerSupply Model33020
  • PXI系统联盟
PXIe可编程设备电源
型号33020
  • 高通道密度,每卡8个通道
UniversalRelayDriverControl Model33011
  • PXI系统联盟
通用继电器驱动控制
型号33011
  • 基于PXIe的通用继电器控制
  • 32CH直接继电器驱动器
  • 2车道SPI继电器控制接口
HighSpeedPXIeDigitalIOCard Model33010
  • PXI系统联盟
高速PXIe数字IO卡
型号33010
  • 标准PXIe总线连接器
  • 最大时钟速率100MHz
  • 每板32道

IC測試分類機(IC测试处理程序)

三溫測試分類機Model3110-FT
  • CE标志
三溫測試分類機
模型3110英尺
  • 温度测试范围-40~125℃
  • 最终测试或系统级别测试
  • 3 x3mm ~ 45 x45mm包
三溫測試分類機Model3111
  • CE标志
三溫測試分類機
型号3111
  • 桌上型設計僅占較小空間
  • 可放置兩個电平料盤
  • 5支援x5mm到45 x45mm晶片尺寸
  • 可由軟體介面設定分類數
  • 測試頭內建氣室,可吸收及減緩下壓觸力衝擊
無線射頻分類機Model3240-Q
無線射頻分類機
3240 - q模型
3240 - q是一台獨特且創新,整合了射頻和無線隔離室之自動分類機
三溫終端測試分類機3160 - c
  • CE标志
  • 台湾2018年卓越
三溫終端測試分類機
3160 - c
  • 先進的溫控技術(Nitro-TEC氮氣溫度控制器)
  • 更快的指数时间(0.6秒)
  • 主動式溫度控制並且提供更全面的測試溫度區間
  • 少室的設計
  • 支持更多樣化測試网站的選擇(1/2/4网站)
八站邏輯測試分類機Model3180
  • CE标志
八站邏輯測試分類機
型号3180
  • 具有八個平行測試站點
  • 组织9產能
  • 溫度測試範圍從常溫到高溫150℃
雙用單站測試分類機Model3110
雙用單站測試分類機
型号3110
運用挑选和地方技術,將待測晶片由進料艙移至測試區,再依測試結果進行分類。不但適用於系統功能檢測,也同時具備終端電性測試的能力。
晶片測試分類機Model3112
晶片測試分類機
型号3112
具備單頭與多頭之適合量產的PnP型自動化晶片測試分類機
三溫系統板測試分類機Model3260C
三溫系統板測試分類機
模型3260 c
  • 高速可靠拾起并定位分類機
  • 同步吸嘴雙取與雙放設計
  • IC殘留檢測功能,通用治具設計
  • 硝基TEC主動式溫控技術導入
  • 更快速的升降溫反應速度
自動化系統功能測試機Model3240
自動化系統功能測試機
型号3240
  • 四个点
  • 可供多組PCB水平平行測試的大量生產機具
自動化系統功能測試機Model3260
自動化系統功能測試機
型号3260
  • 6-sites
  • 可供多組PCB水平平行測試的大量生產機具
微型IC測試分類機Model3270
微型IC測試分類機
型号3270
適合CMOS影像感應元件(CMOS图像传感器、CIS)量產所需
CobraTemperatureForcingSystemforATE / SLTTestApplications Model31000R
用于ATE/SLT测试的眼镜蛇温度强制系统
模型31000 r
  • 温度范围-40°C至150°C
  • 紧凑的足迹
  • 独立-不需要外部冷水机
  • Liquid-free操作