PC在网格上

• 그리드모드의고조파테스트
  （请参阅CGC/GF004：2011 6.1，GB/T34120 5.4.4 GB/T34133 6.5.1，IEC62933-2-1 6.4.7.1）

• 역률제어테스트

• 과주파수전원공급제어테스트
  （请参阅VDE-AR-N 4105：2011 5.7.3.3）

• LVRT（低压乘坐）용량
  （请参阅GB/T34120 5.4.12，GB/T34133 6.8，SGSF-04 7.3.5）

• 안티아일랜딩보호테스트
  （请参阅GB/T34120 5.5.9，GB/T34133 6.9 P18 VDE-AR-N 4105：2011 6.5.3）

PC성능테스트

• 충전/방전방전테스트테스트
  （请参阅GB/T34120 5.4.13，GB/T34133 6.1.2）

• 활성그리드및아일랜드모드테스트테스트
  （请参阅GB/T34133 6.2.2，SGSF-04 9.3.2.2）

• 전력그리드왜곡파형적응성테스트
  （请参阅EN60204-1）

PC보호보호테스트

• 그리드모드에서테스트
  （请参阅SGSF-04-2012-07 7.2.6，IEC62933-5-1 7.4）

• 아일랜드모드에서테스트
  （请参阅GB/T34120 5.5.4，GB/T34133 6.11.4）

• 그리드모드단락보호및출력출력
  （请参阅SGSF-04-2012-07 7.3.1，GB/T34120 5.5.1，GB/T34133 6.11.1，VDE-AR-N 4105：2011 5.7.2）

• 주파수적응성테스트
  （请参阅GB/T34120 5.4.11.1，GB/T34133 6.7.1，IEC62933-2-1 6.2.8，SGSF-04 8.1.1）

• ac전압적응성테스트
  （请参阅GB/T34120 5.4.11.2，GB/T34133 6.7.2，IEC62933-2-1 6.2.8，SGSF-04 8.1.1）

• DC측/저전압보호테스트
  （请参阅GB/T34120 5.5.3，GB/T34133 6.11.3.1，6.11.3.2，SGSF-04 7.2.1）

태양광（PV）특성테스트

• mppt효율성테스트
  （请参阅Sandia，EN50530，CGC/GF004：2011）

• PV변환효율성테스트
  （请参阅Sandia，EN50530，CGC/GF004：2011）

• 방전방지보호테스트

PCS입력및출력테스트테스트

• 정류충전효율테스트
  （请参阅GB/T34120 5.4.1，GB/T34133 6.3.2，IEC62933-2-1 6.2.3）

• PCS효율성효율성효율성테스트테스트
  （请参阅GB/T34120 5.4.1，GB/T34133 6.3.3，SGSF-04 8.1.2，IEC62933-2-1 6.2.3）

• PCS효율성효율성테스트테스트테스트
  （请参阅GB/T34120 5.4.1，GB/T34133 6.3.3）

• 대기손실테스트
  （请参阅GB/T34120 5.4.2，GB/T34133 6.3.4.1，IEC62933-2-1 5.2.6/6.2.6）

• 무부하손실테스트
  （请参阅GB/T34120 5.4.2，GB/T34133 6.3.4.2）

• 역률테스트
  （请参阅CGC/GF004：2011 7.1，GB/T34120 5.4.8，GB/T34133 6.6.3）

• DC컴포넌트측정
  （请参阅CGC/GF004：2011 8.1，GB/T34120 5.4.5，GB/T34133 6.5.7）

• cc충전중와전류안정안정
  （请参阅GB/T34120 5.4.9，GB/T34133 6.1.3.2，6.1.3.3）

• cv충전전압정밀도전압안정안정안정
  （请参阅GB/T34120 5.4.10，GB/T34133 6.1.3.5，6.1.3.6）

• 아일랜드모드전압총고조파테스트테스트
  （请参阅GB/T34120 5.4.15，GB/T34133 6.5.4，IEC62933-2-1 6.4.7.1）