Chroma 3260是用于系统级别的大容量/多站点IC测试的创新处理程序。它能够处理各种类型的包装，包括QFP，TQFP，BGA，PGA等。处理程序使用Pick和Plack Technology从JEDEC托盘拾取设备，将它们移至测试站点，然后将其移动到适当的垃圾箱之后测试。
Chroma 3260可以在高温下与ATC（自动温度冷却）在-40°C至125°C的高温下并行测试多达6个设备。
自动系统功能测试仪型号3260
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主要特征
- 可靠的高速挑选和位置处理程序
- 测试仪零等待时间
- 鸥翼包装能力
- 没有插座损坏
- 空中阻尼器以达到接触余额
- IC插入保护
- 发明专利190373，190377，1227324＆125307
- 热控制配置
- TRI温度控制
- 近环活动热控制（ATC）模块
- Unity PTC（被动热控制）
- 冷却管