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IC Pick＆Place处理程序

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IC Pick＆Place处理程序

FullRangctivEthermalControlHandler Model3110-ft
  • CE Mark
全范围主动热控制处理程序
型号3110-ft
  • -40〜125℃的温度测试
  • 最终测试或系统级测试
  • 3x3mm〜45x45mm包装

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TableTopsingleSiteTestHandler Model3111
  • CE Mark
台式单站点测试处理程序
型号3111
  • 较小桌子空间的桌面设计60 cm2
  • （2）修复了JEDEC托盘
  • IC包装尺寸范围：5x5mm至45x45mm
  • 软件可配置的套筒

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RFSolutionIntegratedHandler Model3240-Q
RF解决方案集成处理程序
型号3240-Q
Chroma 3240-Q是一个独特且创新的处理程序，其集成了RF/无线隔离室。

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tri-temcoctalsiteshandler 3160-C
  • CE Mark
  • 台湾卓越2018
Tri-temp八进制站点处理程序
3160-C
  • 高级热技术（Nitro TEC）
  • 更快的索引时间0.6秒
  • 主动热控制和全范围温度
  • 室的设计少

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OctalSiteTestHandler Model3180
  • CE Mark
八进制测试处理程序
型号3180
  • 最多可X8并行测试站点
  • 最多9000 UPH
  • 周围的温度测试〜150℃

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HybridSingleSiteTestHandler模​​型3110
混合单站点测试处理程序
型号3110
  • 可选的Tri -temp IC测试功能（标准：-40 ℃〜135℃，选项：-55 ℃〜150℃）
  • ft+SLT处理程序（二合）
  • 非常适合设备工程表征收集和分析
  • 自动托盘负载/卸载和设备排序功能
  • 测试仪零等待时间

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Dietesthandler Model3112
模具测试处理程序
型号3112
  • 可靠的选择和裸露的测试处理程序
  • 多板输入和自动化测试排序功能
  • OMNI方向可调探针阶段（X/Y/Z/θ）
  • 阶段保持模具检查功能

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AutomaticsystemFunctionTestertester 3240
自动系统功能测试仪
型号3240
  • 用于系统级别的大量/多站点IC测试的创新处理程序。
  • 在高温下，ATC范围从50°C到125°C，在高温下最多测试4个设备。

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AutomaticsystemFunctionTesterTester3260
自动系统功能测试仪
型号3260
  • 用于系统级别的大量/多站点IC测试的创新处理程序。
  • 在高温下，ATC范围从-40°C到125°C，在高温下最多测试6个设备。

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Miniatureichandler Model3270
微型IC处理程序
型号3270
用于系统级别的高量/多站点微型IC测试的创新处理程序，尤其是用于CIS测试（CMOS图像传感器）的创新处理程序。

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COBRATEMPERTURECYSYSTEMETATE/SLTTESTAPPLICATIONS MODEL31000R
COBRA温度强迫系统ATE/SLT测试应用
型号31000R
  • 温度范围为-40°C至150°C
  • 紧凑的足迹
  • 独立的 - 无需外部冷却器
  • 无液体操作

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