Chroma 19055系列HIPOT分析仪设计用于Hipot测试和分析。它的最大输出功率为500VA，最大交流输出为5kV/100mA，并且满足EN50191的浮动输出。（请参阅申请说明以获取更多详细信息。）
19055-C包括ACW/DCW/IR测试，但还具有新的测量技术。电晕放电检测离子（CDD）。另外，分解电压（BDV）分析可以检测到如下的故障。
- 电晕放电启动电压（CSV）
- Flashover启动电压（FSV）
- 故障电压（BDV）
Chroma 19055系列还具有高频接触检查（HFCC）和打开短检查（OSC）功能。这通过在Hipot测试期间应用接触检查大大提高了测试可靠性和效率。
Chroma 19055系列配备了一个大型LCD屏幕，该屏幕非常方便，可以使用户操作和判断。此外，GFI人力保护电路和浮动输出设计可阻止用户暴露于电气危害。
测量技术
电介质承受测试 - 电晕放电 /闪存 /故障检测
介电的承受能力失败是什么意思？大多数法规指出：“在测试期间，不会发生任何闪存或故障。”如今，对绝缘故障和电气放电的研究对于绝缘材料和高压组件非常重要。由于电排放和绝缘功能是相互关联的，因此排放水平检测不仅是安全问题，而且对产品质量至关重要。电排放可以分为3组；电晕放电，发光排放和弧排放，每个都根据材料排放特性。
电晕放电
当两个电极之间的电压增加时，电场会变得更强。如果电场的强度；由电流产生的大于空气的电离电位，将在绝缘材料表面附近暂时将空气电离。当发生这种电离时，会产生可见光，并在排放区域周围温度上升。长期的电晕排放和热量可能会导致材料的质量变化，绝缘变质以及最终的绝缘故障。电晕放电如图1所示，是一个瞬态放电，具有高频，可以使用高频测量来检测。
▲图1：电晕放电
发光排放和弧排放
当将高压施加到绝缘材料上时，一部分材料可能具有电气放电。高压可能会使绝缘材料失去其绝缘能力，并导致短暂或不连续的放电。这可以通过绝缘材料形成碳化导电路径，或者损坏产品。如图2所示，无法通过仅监视泄漏电流来检测光的放电或电弧排放，但可以通过Flashover检测来检测 - 这正在监视测试电压或泄漏电流的变化速率。这可用于整理有缺陷的产品。亚博app下载网址Flashover检测是电气安全测试中最不可或缺的测试项目之一。
▲图2：Flashover波形
Chroma 19055系列提供了故障电压（BDV）分析，其中包括电晕放电检测（CDD，仅19055-C），Flashover（ARC）检测和崩溃检测。分解电压（BDV）分析是研究与开发和质量保证测试的最佳工具。
▲图3：放电水平分析（DLA）
故障电压（BDV）分析
被动组件的电介质承受电压取决于绝缘材料和制造工艺。为了提高绝缘能力，应定义和分析结合电晕放电，闪存和故障的排放水平。Chroma 19055系列增加了故障电压（BDV）分析，该分析使用户可以对开始电压，结束电压，测试时间，测试步骤，测试限制等进行编程。
故障电压（BDV）分析具有三个判断级别。这些是电晕限制，闪光灯（ARC限制）和故障（高极限）。当测试期间发生放电时，取决于不同水平的限制的承受电压是通过分解电压（BDV）分析确定的。承受电压代表电晕限制故障的电晕放电启动电压（CSV），ARC极限故障的Flashover启动电压（FSV）和高极限故障的故障电压（BDV）。研发人员能够通过收集分解电压（BDV）分析的测试结果来研究和改善绝缘能力。
联系人检查 - 高频联系检查（HFCC）和打开短检查（OSC，专利＃：254135）
高频接触检查（HFCC）是接触检查功能的新测量技术。可以在AC/ DC Hipot测试期间执行HFCC。HFCC测试频率约为500 kHz，极大地提高了接触检查功能和生产效率的准确性。
打开的短检查（OSC）功能可以检查测试期间发生的任何开路（连接差）或短路（缩写DUT）。如果在测试期间发生开路，则可能无法正确判断DUT。此外，可以在损坏固定装置之前对短路进行排序，从而节省测试成本。
在正常条件下，在HI-POT测试下，产品（DUT）的电容（DUT）可以是数十几个PF。如果与产品的连接很差或连接电缆破裂，则在差连接差的表面之间形成的小电容（CC；如图4.2所示）通常低于10pf。这种小电容（CC）使负载的等效电容（CM）低于DUT电容（CX）的正常值。当产品短或几乎短时，负载的等效电容（CM）高于电容的正常值（CX）。因此，电容（CX）的高/低极限可用于识别生产线上的接触问题。
 ▲图4.1：正常情况 |
 ▲图4.2：开路cm = cc * cx /（cc + cx）<< cx |
 ▲图4.3：短路CM >> CX |
操作器保护 - 浮动输出和接地故障中断（GFI）
电气安全测试的目的是保护用户。此外，在测试操作期间，操作员需要受测试设备的保护。Chroma 19055系列具有两种类型的保护机制。浮动输出和接地故障中断（GFI）。
为了使操作员安全地操纵测试人员，Chroma开发了全新的技术保护：浮动输出。此保护符合EN50191；设备安全标准。因为地球泄漏电流（iH）从浮动输出中，无论操作员在Hipot测试过程中触摸哪个端子，操作员都不会因电力而受伤。（如图5所示）
Chroma开发的地面断层中断（GFI）是另一个针对操作员的人体保护。电流（I1和I2）可以通过当前仪表（A1和A2）来测量。当当前差异我H（一世H= i1-i2），即I1和I2之间的差异太大，GFI保护立即削减输出功率，以保护人体（操作员）免受电击。（如图6所示）
 ▲图5：浮动输出 |
 ▲图6：浮动输出 |
申请
Chroma 19055系列HIPOT分析仪具有电晕放电检测功能（CDD），可检测电晕放电（仅19055-C）和分解电压（BDV）分析，以找到CSV，FSV和BDV。这些分析仪能够提供有用的数据来验证产品绝缘能力和制造过程的可靠性。
电晕放电问题
变压器：当变压器的主要侧的绝缘层较差时，在正常使用下，在初级绕组上发生电晕放电（如图7.1所示）。随着时间的推移，电晕放电后，主要侧的绝缘能力将降低。例如，大多数动力变压器都保留在主要侧的辅助线圈，以便使用其他电路（如图7.2所示）。当引脚1和引脚5之间的峰值电压（VPK）为750伏，如果制造过程不好（例如，用绝缘胶带或不良的导线套筒胶带贴不好），则在使用下连续出现电晕放电。初级绕组的绝缘能力将降低，最终由于搪瓷碳化而燃烧的功率变压器将燃烧。
 ▲图7.1：电晕放电 |
 ▲图7.2：主要绕组失败导致绝缘失败 |
发动机：电动旋转机械（例如，工业电动机，电动汽车电机等）在温度和湿度方面差异很大，因此需要很长的时间，因此需要高耐用性和可靠性。温度和湿度是影响绝缘能力的关键因素。随着时间的流逝，电晕放电发生在转弯或转向地面时，它将导致温度升高和材料质量变化，并导致绝缘变质。将电晕放电检测（CDD）添加到HIPOT测试中可以提高绝缘质量需求，并分散隔热性较差的产品，以降低由于长期使用而导致的缺陷率。亚博app下载网址
▲图8：电动机的电晕放电
电容器，光电图，绝缘材料的排放问题：故障电压（BDV）分析通常用于验证高压电容器，安全电容器，照相耦合器和绝缘材料的承受电压。当在绝缘介质中产生制造过程引起的间隙或空隙时，在Hipot测试期间在DUT内形成的不同电场 - 导致电晕放电。绝缘介质的变化和绝缘质量问题由于长期使用而出现。
▲图9：无效排放