Chroma 19301a脉冲绕组测试仪结合了高电感测试技术，最大脉冲电压为1000V，高速采样速率为200MHz，满足了功率电感器产品的大部分测试要求，其范围从0.1UH到0.1UH，亚博app下载网址100UH。区域尺寸比较，差异面积比较，扑动值，拉普拉斯值，ΔPeak或δ峰值比，峰值比和Δ共振区域功能的内置函数能够有效地检查线圈是否有效地进行绝缘。
对生产的伤口组件的检查包括电气特性测试和电气安全标准的承受电压测试。线圈的隔热性不佳，这是一个常见的问题，在使用过程中会导致层短和/或短路，这可能是由于不良设计，不良的成型过程或绝缘材料的恶化而引起的。因此，有必要对任何绕组组件或线圈进行层简短测试。
19301a专为伤口组件测试而设计，它使用与线圈并行的高电压和低电容电容器（低测试能）形成RLC共振剂，称为阻尼。通过高速，精确和准确的采样来分析波形的衰减，可以成功地检测到线圈内的不良绝缘层。它提供了绕组质量测试和电源电感器芯上的电压测试，还使制造商和用户检查绕组组件产品的质量更有效。亚博app下载网址
19301a可用于测试最小电感降至0.1UH的低电感绕组组件。它提供了4端（4线）测量，接触检查，电感检查和电压补偿，以测试低电感绕组组件，以避免由DUT的电感差异或电线等效电感的电感变化引起的测试电压的严重性不正确，这使其成为低电感绕组组件的最佳脉冲绕组测试仪器。
19301a的测试速度极高，可以减少测试时间并提高自动产量的生产率。此外，电压补偿函数减少了自动机器中接线的等效电感的不良电感。
全新的人类机器接口具有彩色显示和屏幕捕获功能。波形的屏幕截图不仅适用于现场生产，而且适用于研发和质量保证进行分析和比较，可以通过仪器前侧的USB端口保存。这改善了操作的便利。
测量技术
简介与冲动测试理论
“脉冲绕组测试”应用于DUT的“无损”，高速和低能冲动电压。电容器（CS）和伤口分量平行于形成RLC电路，该电路将脉冲电压应用于RLC电路时会产生RLC共振。通过观察其振荡的衰减（也称为阻尼），我们可以理解伤口成分的制造过程状态，包括绝缘，电感和平行等效电容（CW）（如图1：图1：电路测试）。也可以通过分析和比较其测试波形来识别良好或有缺陷的亚博app下载网址产品。脉冲绕组测试的主要目的是尽早发现伤口成分的潜在缺陷，例如电线之间的层短，焊接不良（缺乏融合）和内部线圈或芯上的绝缘层不良。
 ▲图1：等效电路 |
 ▲图2：WV测试 |
RP检查
峰值比和δ峰或δ峰值比是色度的独特测试技术。在进行任何测试之前，核心和牙釉质绝缘线之间的大核损耗或伤口组件的短路可能导致Q值下降（较小的RP）。
在故障电压（BDV）测试模式下，峰值比可用于检测DUT的平行电阻（RP）的变化，以检查RP的异常或恶化。在执行电压测试并打开开关（SW1关）后，它计算得出的峰值比，这是第二峰值与振荡电压波形的第一个峰值的比率。随着电压连续增加，峰值比可以检查由异常或恶化引起的RP的变化，以便找到击穿电压（BDV）或劣化电压（DTR.V）。较大的峰值比表示较大的RP值，这也意味着Q值越高。
在脉冲绕组测试（IWT）模式下，可以通过将测试产物的峰值比与已知的好产物进行比较，用于检测有缺陷的产物。亚博app下载网址在执行电压测试并打开开关（SW1关）之后，它使用DUT和样品的峰值比来计算δ峰或δ峰值比，这是DUT和DUT之间的峰值比的差异。从样品中衰减比率的DUT与样品之间的峰值比的样本或峰值差，用于识别有缺陷的产物。亚博app下载网址
▲图3：WV测试和峰值比率
波形判断模式
- 区域大小：此功能将采样波形的总面积大小与DUT的测试波形进行比较。面积大小受线圈的绝缘影响。线圈的绝缘不良会导致波形迅速衰减，从而导致面积大小小于参考。
- 差分区域：该函数使用点比较来计算差分区域，即差分区域是样本波形和来自DUT的测试波形之间产生的区域。差异面积测试的结果与样品和DUT之间的电感差异有关。电感的差异导致振荡频率不同，并在样品波形和测试波形之间创建差异区域。电感的差异越大，差异区域产生的越大。
- 颤动检测：该函数使用第一个衍生物来计算颤动值，这表示波形的斜率之和。它比较了DUT的颤音值与样品的扑动值，以确定是否在DUT中/在DUT中发生了排放。当测试期间发生放电时，来自DUT的颤音值大于样品的值。
- 拉普拉斯价值：该函数使用第二个导数来计算拉普拉斯值，该值表示波形的变化斜率或曲率/凹度的速率。当值为正时，曲线将凹入。当值为负时，曲线将凹陷。然后，它将DUT的拉普拉斯值与样品的拉普拉斯值进行比较，该值可以有效地检测到由电气放电或不良电极焊接引起的波形的快速变化。
 ▲图4：区域大小 |
 ▲图5：差分区域 |
 ▲图6：用于排放波形的颤音和拉普拉斯 |
- 峰值比：在BDV测试模式下，19301A通过使用DUT的1st和第二幅度来计算第二峰值与第一峰值值的峰值比。它还利用津贴范围来判断DUT是否通过增加测试电压过度恶化。这也可用于分析DUT的劣化电压 /故障电压。
 |
 ▲图7：峰值比 |
- ΔPeak /ΔPeak比率：在IWT测试模式下，19301A比较了DUT和样品的谐振波形的峰值比，以计算ΔPeak或ΔPeak的比率。如果从DUT到样品的峰值比相同，则ΔPeak或ΔPeak比率将等于0％。ΔPeak是DUT和样品之间峰值比的差异。ΔPeak的比例是DUT和样品之间的峰值比除以样品的衰减比的差异。操作员可以使用ΔPeak或ΔPeak比率的高和低限制来设置允许范围，以排除与样品具有显着差异的有缺陷产品。亚博app下载网址
- Δ共振区域：在IWT测试模式下，开关打开（SW1关）后，19301A将来自DUT的谐振波形的总面积与样品进行了比较，类似于区域尺寸功能。谐振区域的大小与线圈的绝缘有关。线圈的绝缘层不良会导致波形迅速衰减，这会导致谐振区域小于样品隔离良好的线圈。
▲图8：共振区域
低电感脉冲测试技术
Chroma 19301a专门用于测试低电感伤口成分。层短测试可以应用于最小电感为0.1UH的伤口组件。低电感的DUT测试与一般电感产品不同。亚博app下载网址由于电感较低，DUT很容易受到测试电路接线的等效电感的影响，这会导致测试电压在测试电路上分布，从而使DUT上的实际测试电压远低于设置电压。。此外，低电感的功率阻滞的工作电压很低，因此脉冲测试电压通常低于一般电感产物。亚博app下载网址
低压范围
低电感产品（例如智能手机内部的亚博app下载网址电力窒息）的工作电压低且体积较小，因此测试电压相对较低。因此，用于测试低电感产品的脉冲测试设备需要具有低电压范围来分析波形。亚博app下载网址Chroma 19301a具有七个电压范围：25V，50V，100V，200V，400V，800V和1000V。最低电压分辨率为0.06V，最小测试电压为10V，可提高波形识别的能力。
 ▲图9：Chroma 19301a脉冲绕组测试仪 |
 ▲图10：常见冲动测试仪 |
4端测量
公共2线层短测试设备的电压仪/传感器位于当前环内，用于测量电压，在DUT上的测量电压和实际电压之间造成了很大的差异。Chroma 19301a使用双轴4线检测，这也称为4末端测量，以实质上提高电压精度，以获得更准确的测试结果。
▲图11：4末端测量图
联系检查（专利：I516773）
Chroma 19301a执行接触检查，可以在测试之前延长固定装置或探针的使用寿命，以避免接触不良或开放电路，这会导致19301a产生高压输出探测和损坏DUT。
电压补偿（专利：I516773）
在对高电感伤口组件（例如变压器）的一般测试中，接线的等效电感的影响相对较小。但是，在测试较低电感的伤口成分（例如0.2UH）时，DUT上的实际测试电压很容易受到接线的等效电感的影响。减少接线的影响是一个主要的设计问题，尤其是在自动测试中。当接线的阻抗太大时，测试电压分布到电线上，这会导致DUT上的实际测试电压远低于设定的电压，并且检查有缺陷的产品的检查变得无效。亚博app下载网址
此外，针对伤口成分指定的电感的耐受性可以为±30％。因此，在低电感伤口组件测试中，由DUT的差异电感引起的实际测试电压差异更为明显。这可能会导致区域尺寸功能变得无效或测试电压使要求失败。Chroma 19301a具有差分电感的电压补偿函数，该电感能够解决上述问题并减少由差分电感引起的实际测试电压差异，以减少错误判断的可能性。
通常，具有电感的DUT（LX）与测试电路中接线的等效电感（LI＆LW）串联，该电路将输出电压（V）划分。跨DUT的电压（VX）小于输出电压（V）。右图显示了跨DUT的电压（VX）的等效公式。
 ▲图12：电压补偿的等效电路 |
 ▲图13：没有补偿电压 |
 ▲图14：带补偿电压 |
应用
高电感产品测试亚博app下载网址
19301a不仅具有低电感产品测试技术，而且还涵盖了高电感产品测试。它能够测试从0.1UH到100UH的电亚博app下载网址感值的产品。当测量样品以进行电感时，19301a会根据样品和测试的测量来自动切换到适当的范围。然后，该波形样品与DUT进行比较，以验证DUT具有适当的波形。对于操作员来说，这是一个非常方便的功能。将高电感测试技术的应用结合到单层短测试仪中，不仅减少了生产线上的转换时间，还可以降低工厂的设施/设备成本。
B.D.V-故障电压
19301a具有内置的故障电压分析。在故障电压（BDV）测试模式下，可以将每个步骤之间的启动电压，端电压和百分比设置。尽管测试电压在每个步骤中都增加，但它可以使用区域大小，laplacian和峰值比功能来判断每个函数的结果是否超过指定限制，以便找到测试线圈的承受电压。另外，它还可以使用变质检测函数来找到变质电压（DTR.V）。研发工程师可以通过在BDV测试模式下使用这些功能来分析和研究产品并改善线圈设计的任何弱点。
劣化点分析
在BDV测试模式下，19301A利用峰值比的变化来检测DUT是否开始恶化。当DUT开始恶化时，峰值比下降。可以使用3到5次的峰值比的连续衰减时间可用于检测DUT的恶化电压（DTR.V）。
暂停
在BDV测试模式下，操作员可以启用暂停功能。此功能使19301a每次按下[start]键一次执行测试。完成每个测试步骤后，暂停测试，直到再次按下[start]键以开始下一步。当有必要将DUT移动以进行其他分析或在每个步骤之间进行测试时，操作员可以使用此功能，并在下一步继续进行BDV测试。
▲图16：暂停功能和屏幕截图
截屏
此功能允许操作员通过按快捷键捕获当前屏幕显示。将捕获的屏幕显示保存在19301a中插入的USB闪存驱动器。
导出数据
此功能导出当前的测试结果，并将其保存到19301a中插入的USB闪存驱动器中。这使操作员可以分析每个测试结果的数据。数据文件的格式为CSV（逗号分隔值）。
高速自动测试申请
低电感产品用于智能手机，平板电脑等，因亚博app下载网址此电感器趋势的大小趋于较小，更薄且更轻。具有高生产速度的全自动测试和包装机在产生这些电感器中使用。因此，需要高速测试设备以满足高速生产。Chroma 19301a提供了高速测试，并使用双轴4线检测（4端测量）来降低接线长度的影响，这可以与自动化机器完美配合进行层测试，以便为客户提供更大的好处。高速测试的最短时间已提高到18ms，这可以大大提高自动生产产量的数量。
SMA电源阻塞测试固定装置
低电感功率阻塞的大小很小。Chroma已开发了4端测量固定装置（专利），可以通过电感差来处理电压补偿，特别是对于SMD功率扼流圈，以促进层简短测试的运行，并提高R＆D工程师的测试效率，产品开发人员和质量检查人员。
▲图17：SMD电源障碍测试固定装置（A193001）