激光二极管表征系统型号58620

LaserDiodeCharacterizationSystem
关键特性
  • 边发射激光二极管全交钥匙自动测试
  • 高精度、大容量载体,可与其他自动化设备互换
  • 光纤耦合测试的全自动校准
  • 自动光学检测,最大限度地减少机械定位延迟
  • 高度精确的TEC温度控制器,稳定性高达±0.01°C
  • 基于pxi的SMU和功率计,快速测试时间
  • 全套激光二极管表征软件分析工具(Ith, Rs, Vf,斜率效率,λp等…)

58620特性站概述

Chroma 58620激光二极管表征站是一种先进的全交钥匙系统,专门为激光二极管测试设计。功能范围从侧面或孔径活动区域的宏观检查到一套完整的光电参数测试。当与Chroma的高容量载体结合使用时,多个设备可以快速索引,不仅提高测试时间,而且可重复性,这对产量和质量控制产生了很大的影响。Chroma 58620配备了一个超稳定和均匀的热控制平台,可以在生产环境中进行研发式测试。

超精密载波设计

根据在半导体行业的丰富经验,Chroma引入了一种精密和高容量的载体,可设计用于适应大量的机械形式因素,如芯片上载体(CoC),芯片上底座(CoS),晶体管轮廓(to),或激光棒。高度创新的双向设计的对称性允许组件放置在两侧,分配更多的组件。载体的多层结构使得组件可以很容易地通过手动或机器人拾取和放置系统插入。表面和材料的设计是为了优化与被测设备(DUT)的热接触,从而实现高效的热传导和高水平的温度控制。一旦载体被插入,机器人将接管并对载体上的所有设备(两侧)执行广泛的预定义自动化测试。

多功能平台

Chroma 58620配备了一个全自动校准站,以模拟或关联到真实世界的光学子组件(OSA)测试。这些参数包括但不限于功率、耦合效率和频谱性能。使用的设备可以简单的如ber耦合功率计和光谱仪,也可以复杂的如功能齐全的光谱分析仪来测量侧模抑制比等。其他观测站可能会配备一个积分球来进行原始输出测量和电流扫描曲线,必要时甚至还会配备电容计量设备。由于为可追溯性而对载体进行了定位索引和条形码编码,因此每个设备都带有标识码。这使得Chroma 58620能够为用户提供可追踪的数据,以减少对下游测试的需求,或与最终封装测试参数准确的设备特定相关性。


▲自动调整光纤与AOI协助

跨平台兼容性

该载体,为Chroma 58620上使用的特定产品类型而设计,也可用于其他工艺。这使用户能够形成一个精简的,全自动的,激光二极管验证过程。这些过程是,但不限于,芯片/晶圆鉴定,寿命测试,老化,芯片表征和最终生产测试。该载体被设计为可与Chroma 58601系列光电老化和寿命测试系统互操作。设备可以留在载体上,在载体上燃烧几个小时或几个月,收集有价值的原位降解数据,然后插入58620进行全面表征。通过访问测试前、老化和测试后参数信息,用户可以生成基于经验的精确组件模型。当努力提高产量或与理论预期相比时,这将增加巨大的价值。

高精度TEC控制平台

激光二极管上的外部和内部诱导热应力强烈地影响光谱和其他电光特性。由于这些问题,Chroma 58620包括一个使用高精度Chroma 54130 - 300W TEC控制器和Chroma 51101数据记录器的温度控制平台。这些被高度认为是世界级的仪器,以确保载流子温度的均匀性,因此被测试的设备。沿着载体平台放置了几个热传感器,以确保高度的温度均匀性和稳定性。


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