微型IC处理程序型号3270

Miniatureichandler 
主要特征
  • CIS测试的高通量
  • 可靠的高速挑选和位置处理程序
  • 3x3 mm微型设备处理能力
  • 空中阻尼器以达到接触余额
  • 无插座伤害

Chroma 3270是用于在系统级别的高量/多站点微型IC测试的创新处理程序,尤其是用于CIS测试(CMOS图像传感器)的创新处理程序。它能够处理各种包装类型的设备,包括QFP,TQFP,BGA,PGA等。处理程序使用Pick和Plack Technology从JEDEC托盘拾取设备,将其移至测试站点,然后将其移动到测试后合适的垃圾箱。

Chroma 3270可以处理16个设备以在环境温度至高温为50°C下并行测试。


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