Chroma 19501-K部分放电测试仪结合了Hipot测试和PD（部分放电）检测器在一种仪器中的功能。该设备能够最大10kV AC输出，泄漏电流测量范围为0.01UA至300UA，最小部分放电检测到1PC。该测试仪是专门为测试高压半导体组件和高绝缘材料而开发的。19501-K设计符合IEC 60270-1和IEC 60747-5-5标准，并具有内置的IEC 60747-5-5测试方法。它不仅满足光耦合产品的生产测试要求，而且还为用户提供了友好且方便的操作接口。亚博app下载网址
在生产线上执行Hipot测试时，DUT与测试电路之间的连接差会导致测试失败或绕过。因此，确保在测试前确保DUT和测试电路之间的连接状况良好非常重要。对于高绝缘组件，HVCC（高压触点检查功能）利用开尔文测试方法同时使用Hipot测试进行接触检查，以提高测试可靠性和效率。
部分排放测试仪模型19501-K/19500系列
主要特征
- 内置Hipot测试和PD检测器在一种仪器中功能
- 可编程电压输出：0.1KVAC〜10KVAC
- 高精度和分辨率电流表：0.01UA〜300UA
- PD（部分放电）检测范围：1 PC〜2000 PC
- 高压接触检查功能（HVCC）
- IEC60747-5-5和IEC 60270-1标准符合标准标准
- 内置IEC60747-5-5测试方法
- 电压测试功能的3个阶段
- PD测试结果的数字显示[PC]
- PD缺陷出现判断设置（1〜10）
- 图形编辑功能
- USB屏幕捕获功能
- 英语和简化中文/传统的中文操作界面
- 标准USB，LAN，RS-232和处理程序界面