解决所有类型的半导体组件的测试需求
通过半导体技术的进步，世界被迫改变。这是人工智能符合5G的时间，当自动汽车符合大数据分析时，所有内容都合并到便携式设备中。半导体测试系统需要转换为新的时代，其中各种特征需要集成到一个微小的系统中。新兴的PXIe基础平台提供了一个良好的可行路径，以满足新时代的需求。Chroma的PXIe半导体测试解决方案为我们的客户提供多功能工作场所，以完成半导体测试，同时集成来自不同供应商的功能仪器模块。
半导体测试类设备电源没有妥协
Chroma 33020基于PXIE的可编程电源卡是一个高度集成的电源模块，附带了半导体测试所需的一切。它具有最高密度的8个独立的可编程DC电压，在-6V至12V，在500mA处，500mA，可编程电压和电流夹紧。输出可以加入高达4A的输出电流。对于半导体测试应用，这些设备电源还具有16位力电压电平和18位测量电压分辨率，以500KSPS采样率，可提供卓越的精度。设备设置时间也大大提高，稳定时间从50us到500us实现所需的最高测试速度。
专有软件，工艺等丰富的软件功能支持
除了支持LabView和LabWindows环境外，Chroma还提供了一个专有的软件套件CRAFT。CRAFT是在Microsoft Windows操作系统上运行的，包含了从测试程序开发、调试、生产和维护的全套半导体测试工具。生产工具包括易于使用的GUI软件，如操作员界面、测试数据输出、分箱和顺序控制、晶圆图、汇总工具和丰富的集探头/处理器驱动程序。用户调试工具包括Datalog、Plan Debug、TCM、Shmoo、Pattern Editor、波形图等。它还支持LabView和LabWindow环境，并提供了一个调试工具的子集。此外，还支持第三方CAD到ATE模式转换工具，以覆盖WGL/STIL/VCD/EVCD转换。