高级SOC/模拟测试系统型号3650-EX

AdvancedSoc/AnalogTestsysty
主要特征
  • 10个通用插槽,用于数字,模拟和混合信号应用
  • 50/100 MHz时钟率,100/200 Mbps数据率
  • 最多512个站点并联测试
  • 最多1024个数字I/O引脚
  • 32/64 MW矢量内存
  • 高精度测量最多32 ch PMU
  • 每针正时/ppmu/频率测量
  • 扫描功能到4G深度/扫描链
  • ALPG option for memory test
  • 边缘放置精度±300PS
  • Up to 64 CH high-voltage pins
  • 96 CH高密度DPS
  • 32 CH HDADDA混合信号选项
  • 8〜32 CH VI45模拟选项
  • 2〜8 CH PVI100模拟选项
  • MRX option for 3rd party PXI/PXIe applications
  • Microsoft Windows® 7 OS
  • C ++和GUI编程界面
  • 清脆,完整的直觉软件工具
  • 其他平台的测试程序和模式转换器
  • 直接接受其他测试人员的DIB和探测卡
  • 支持STDF数据输出
  • 气冷,小足迹测试仪在测试中设计

半导体制造是一个快速发展的行业。越来越多的设备与各种功能高度集成。必须建造资本设备以超过几代设备的几代和应用。具有各种可用选项,例如AD/DA转换器测试,用于存储器测试的ALPG,高压PE,多扫描链测试,VI45和PVI100模拟测试选项和HDADDA混合信号测试选项,Chroma 3650-EX
可以为客户提供广泛的覆盖范围,以测试具有灵活配置的不同类型的设备。

此外,Chroma 3650-EX平台体系结构允许第三方供应商开发专注的仪器,可以轻松地为特定应用程序添加。它可以通过在低成本生产测试系统中覆盖比以往任何时候都更广泛的设备来扩展测试的界限。

3650-EX不仅通过降低测试人员系统的成本,而且还可以通过更快地测试具有较高并行测试能力的设备来实现较低的测试成本。借助Chroma Pinf IC和复杂的校准系统,3650-EX的总体计时精度比其他低成本ATE更好。借助任何针对任何站点的映射设计,3650-EX可提供多达512个站点高吞吐量平行测试功能,以扩大质量生产性能,并更加灵活,更容易布局。

Chroma 3650-EX为您带来最具成本效益的SOC测试人员

Chroma 3650-EX专门设计用于高通量和高平行测试功能,可为Fables,IDM和测试房屋提供最具成本效益的解决方案。3650-EX具有测试能力,高精度,功能强大的软件工具和出色可靠性的全部功能,非常适合测试消费者设备,高性能微控制器,模拟设备和SOC设备。

此外,强大的顺序模式生成器提供了各种模式命令,以满足复杂的测试向量的需求。无需插槽边界的真实测试架构和无插槽边界的灵活站点映射设计用于高吞吐量的多站点测试。最多可达640个数字引脚,32个设备电源,每个PIN PMU和模拟测试功能,3650可与具有成本效益的测试解决方案结合使用高测试性能和吞吐量。

低成本生产系统中的高性能

3650-EX不仅通过降低测试人员系统的成本,而且还可以通过更快地测试具有较高并行测试能力的设备来实现较低的测试成本。借助Chroma Pinf IC和复杂的校准系统,3650-EX的总体计时精度比其他低成本ATE更好。The pattern generator of 3650-EX has up to 64M depth pattern instruction memory. By having the same depth as the vector memory, Chroma 3650-EX allows to add pattern instruction for each vector. Moreover, the powerful sequential pattern generator provides the variety of micro instructions to meet all kinds of different demands of complex test vectors. Hardware true per-pin architecture and the flexible site mapping with no slot boundaries are designed for multi-site test with high throughput. Up to 1024 digital pins, 96 device power supplies, per-pin PMU, mixedsignal and analog test capability, 3650-EX delivers a combination of high test performance and throughput with cost-effective test solution.

高平行测试能力

3650-EX的功能强大的,多功能的并行引脚电子资源可以同时在多个引脚上执行相同的参数测试。3650-EX将128个数字别针集成到一个插槽中。在每个LPC板中,它包含支持时间生成的高性能Chroma Pinf IC。本地控制器电路的集成可以管理资源设置和结果读数,因此切断了系统控制器的开销时间。借助任何针对任何站点的映射设计,3650-EX可提供多达512个站点高吞吐量平行测试功能,以扩大质量生产性能,并更加灵活,更容易布局。

灵活性

半导体制造是一个快速发展的行业。越来越多的设备与各种功能高度集成。必须建造资本设备以超过几代设备的几代和应用。具有各种可用选项,例如AD/DA转换器测试,用于存储器测试的ALPG,高压PE,多扫描链测试,VI45和PVI100模拟测试选项和HDADDA混合信号测试选项,Chroma 3650-EX可以提供宽阔的EX客户的覆盖范围,以测试具有灵活配置的不同类型的设备。此外,Chroma 3650-EX平台体系结构允许第三方供应商开发专注的仪器,可以轻松地为特定应用程序添加。它可以通过在低成本生产测试系统中覆盖比以往任何时候都更广泛的设备来扩展测试的界限。

从设计到生产

Chroma 3650-EX build-in MRX solution can support PXI instrumentation which can provide users wider coverage to different kind of applications. For those users use PXI instrumentation for their design validation and verification, they can move PXI instrumentation directly to 3650-EX for production. There will be less uncorrelated issues happened on design stage and production by using the same PXI instrumentation. Chroma 3650-EX had successfully integrated several PXI solutions like Audio, Video and RF applications not only on hardware integration, also for build-in libraries and tools in software to help users control PXI instrumentation more easily and enable accelerated test program development, reducing product time to market.


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