C-SI PV细胞的后侧打印过程的缺陷原因也会导致性能，可靠性影响。在所有背侧打印缺陷中，由不当打印引起的颠簸可能会在C-SI模块过程的层压过程中导致高细胞破裂率。Chroma 7213-AD C-SI电池后部打印检查器使用独特的照明技术来检测常见的后侧打印缺陷以及大多数苛刻的颠簸。
另一种型号Chroma 7213，具有相同的检查能力，但专为特殊的向上检测而设计。这为常规向下检测设计带来了无与伦比的优势。通过向上检测，可以检查细胞而无需翻转两次，这有助于最大程度地减少细胞破裂并减少生产线长度。
与Chroma 7212-HD相同，Chroma 7213-AD可以在后侧过程后使用主要缺陷的细胞。它也可以在运输前将其集成到在线或离线分道机上进行最终检查。
