在7202年的设计,色度出来一个独特的光学设计确保粒度计算的结果是高度重复。因为不同粒度的论述可以量化,检查晶片可应用于适当的细胞尽可能高的细胞eciency生产线。
7202年针孔缺陷也可以检测到。针孔缺陷是导致μ-crack或严重地方分流到光伏模块将导致可靠性问题。
▲针孔缺陷的分析
- 可以被集成到任何晶片进行分拣
- 灵活的算法为单晶的编辑,multi-crystalline quasi-crystalline晶片,适用于两个5和6”
- 多个接口来与不同的设备或制造执行系统(MES)
- 独特的照明设计,以确保粒度的可重复性
▲7202年粒度检验结果的例子