VLSI测试系统模型3380

VLSitestsystem
主要特征
  • 50/100 MHz时钟率
  • 50/100 Mbps数据率
  • 1024 I/O销(最大1280 I/O销)
  • 最多1024个站点并行测试
  • 32/64/128模式内存
  • 16m捕获记忆每用针
  • 各种VI源
  • 灵活的硬件体系结构(可互换I/O,VI,ADDA)
  • 真实的并行修剪/匹配功能
  • 时间和频率测量单元(TFMU)
  • STDF工具支持
  • 测试程序/模式转换器(J750,D10,S50/100,E320,SC312,V7,TRI-6036等)
  • AD/DA测试(选项)
  • 扫描测试选项(最大2G m/链)
  • 嵌入式内存的ALPG测试选项
  • 工艺C/C ++编程语言
  • 软件接口与3380p/3360p相同
  • 用户友好的Windows 7环境

为了应对当今半导体行业中高速,无数引脚的IC测试趋势以及复杂功能的整合,Chroma的3380 VLSI测试系统,3380D/3380D/3380P/3380模型,已根据不同的PIN测试能力和平行测试能力采用了强大的功能,提供完整的测试解决方案,以满足客户在成本和绩效方面的需求。

配备最多1280 I/O通道,256个VI源,灵活的体系结构和全面的可选功能板(ADDA/HI-WODTAGE DPS)的3380 VSLI测试系统可以满足高平行的多站点测试趋势。嵌入式1024 I/O引脚能够并行测试1024 IC。除了支持唯一的4线HD VI源ICS外,3380还可以通过其可调节结构来测试Mini&Micro LED驱动器IC,CMOS图像传感器(CIS)和3D图像,该结构涵盖了IC的广泛应用程序测试。

3380可以桥接到3380d(256引脚) /3380p(512引脚),以达到更高的生产率要求。无论是安装,稳定性,友好的用户界面或高成本/性能比率,3380系列VLSI测试系统都已被大中国市场广泛证明和采用。

申请

  • MCU设备
  • ADC/DAC混合信号IC
  • 逻辑IC
  • adda
  • Alpg
  • 智能卡
  • CMOS图像传感器(CIS)
  • 电力IC(D级IC)
  • 消费者IC
  • LED驱动器IC

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