3380P型VLSI测试系统

VLSITestSystem
关键特性
  • 50/100 MHz时钟速率
  • 50/100 Mbps数据速率
  • 1024个I/O引脚。1280 I / O引脚)
  • 多达1024个站点并行测试
  • 32/64/128模式记忆
  • 每个引脚16M捕获内存
  • 各种VI源
  • 灵活的硬件架构(可互换的I/O, VI, ADDA)
  • 真正的平行装饰/匹配功能
  • 时间频率测量单元
  • STDF工具支持
  • 测试程序/模式转换器(J750, D10, S50/100, E320, SC312, V7, TRI-6036等)
  • AD / DA测试(选项)
  • 扫描测试选项(最大。2 g M /链)
  • 用于嵌入式内存的ALPG测试选项
  • CRAFT C/ c++编程语言
  • 软件界面与3380P/3360P相同
  • 用户友好的Windows 7环境

为了应对未来IC测试高速、引脚众多、功能复杂的趋势,Chroma最新一代的VLSI测试系统3380D/3380P/3380采用了更加灵活、集成度更高、功能强大的架构。

3380D/3380P/3380测试系统具有4线HD VI源和任意引脚到任意站点高并行测试(多站点测试)功能(512 I/O引脚并行测试512 IC),能够满足未来更高的IC测试需求。

测试系统3380P还内置了一体化设计(仅用于测试头),以提供一个小的占地面积/清晰的功率ATE,成为一个非常有竞争力的价格/性能比测试系统。

功能丰富,覆盖面广

逻辑,单片机,混合信号;电源,LED驱动,D类;SCAN, ALPG, Match等。


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