-
粘液色
-
0询价车
-
联系色度
快捷菜单
SoC测试系统
先进SoC/模拟测试系统
3680型
- 24个可互换插槽，用于数字、模拟和混合信号应用
- 150 Mbps数据速率（混音）模式最高最高1Gbps）
- 最高512个站点并行测试
- 多达2048个数字通道管脚
SoC/模拟测试系统
3650型
- 应用范围：MCU、ADDA/内存、控制器、PMIC和各种消费品
- 可扩展平台，最多640个通道
- 50/100 MHz、200 MHz（MUX）测试速率
- 各种高密度选项，从模拟、ADDA、混合信号到TIA
SoC/模拟测试系统
3650-EX型
- 应用范围：MCU、ADDA/内存、控制器、PMIC和各种消费品
- 可扩展平台，最多1024个IO通道和96 DPS
- 50/100 MHz、200 MHz（MUX）测试速率
- 各种高密度选项包括VI45、PVI100、HDADDA和MRX
超大规模集成电路测试系统
超大规模集成电路测试系统
3380P型
- 50/100兆赫测试频率、50/100 Mbps数据速率
- 512数字信道管脚 (最高可至 576数字信道管脚)
- 并行测试可达512个站点同测数
- 多样弹性不及物动词电源
集成电路测试分类机 （集成电路测试处理器）
三温终端测试分类机
3160-C
- 先进的温控技术（硝基TEC）氮气温度控制器)
- 更快的索引时间（0.6秒）
- 主动式温度控制并且提供更全面的测试温度区间
- 无室的设计
- 支持更多样化测试地点的选择（1/2/4个站点）
形貌量测系统
- ↑