IC测试分类机（IC测试处理程序）

• -40〜125℃的温度测试
• 最终测试或系统级测试
• 3x3mm〜45x45mm包装

• 桌上型设计占较小空间
• 可放置两个
• 支持5x5mm到45x45mm芯片芯片尺寸
• 可由接口设定分类数
• 测试头，可可减缓下压冲击冲击冲击

3240-q是台独特创新整合射频和隔离室之分类机分类机

• nitro-tec氮气氮气氮气氮气技术技术技术控制器控制器）
• 更指数时间（0.6秒）
• 主动式温度并且提供全面的测试温度区间
• 室少的的
• 支持更测试站点的的（1/2/4站点）

• 具有八个测试站点
• 9kpcs产能
• 150℃℃常温从从从常温常温常温

pick＆place技术，将将由测试区测试区，再进料舱移至至结果进行分类。不但适用适用系统功能功能，也检测检测检测检测检测

Pnp自动化自动化自动化自动化自动化自动化自动化分类机分类机分类机分类机分类机

• 高速pick＆place分类机
• 同步吸嘴与双放设计
• ic残留检测，通用设计设计
• 硝基tec主动式导入导入
• 更快速升降温反应速度

• 4点
• PCB级平行平行平行测试的大量机具机具机具机具

• 6点
• PCB级平行平行平行测试的大量机具机具机具机具

CMOS影像影像（CMOS图像传感器，顺式）量产量产需需

• 温度范围为-40°C至150°C
• 紧凑的足迹
• 独立的 - 无需外部冷却器
• 无液体操作