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SoC 测试系统

VLSI 测试系统

IC测试分类机 (IC Test Handler)

形貌量测系统
先进SoC/模拟测试系统 Model3680
    先进SoC/模拟测试系统
    Model 3680
    • 24个可互换插槽，用于数字、模拟和混合信号应用
    • 150 Mbps数据速率(muxed模式最高最高1Gbps)
    • 最高512 sites并行测试
    • 多达2048个数字通道管脚

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    高性能混和讯号解决方案 HDAVO
    高性能混和讯号解决方案
    HDAVO

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    SoC/Analog测试系统 Model3650
    SoC /模拟测试系统
    Model 3650
    • Application coverage: MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
    • Expandable platform with up to 640 channels
    • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
    • Varieties of high density options, ranging from analog, ADDA, mixed-signal, to TIA

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    SoC/Analog测试系统 Model3650-EX
    SoC /模拟测试系统
    Model 3650-EX
    • Application coverage: MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC, and all sorts of consumer
    • Expandable platform with up to 1024 IO channels and 96 DPS
    • 50/100 MHz, 200 MHz (MUX) Test Rate
    • Varieties of high density options include VI45, PVI100, HDADDA and MRX

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