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3D晶圆量测系统型模型7980
3d晶圆量测系统
7980型
本系统干涉量测,可进行光学光学光学尺寸量测
三维光学(3D)轮廓仪型号7503
三维光学(3D)轮廓仪
7503型
  • 使用白光干涉量测技术
  • 模块化设计
  • 多种参:断差断差,,薄膜厚度平整度平整度平整度
晶圆检测系统型模型7940
晶圆检测系统
7940型
  • 可同时正反两晶圆晶圆
  • 最大最大检测检测吋吋晶圆晶圆(检测检测达达8吋)
  • 可因应产业晶粒更换或新增项目项目
  • 上片后晶圆对位机制
多模型7505-05
多功能光学系统
7505-05型
  • CG尺寸质量质量检测检测检测检测检测检测
  • 整合2d及3d量测量测于同系统系统
  • 全新专利快快快<2.5秒/片
  • 提供实时图,可实时显示每测项状况状况状况
圆柱型电池外观自动检测系统模型7505-k006
圆柱型电池自动光学检测系统
7505-K006型
适用于各种尺寸之圆柱型外观检测检测检测
薄膜厚度自动光学系统系统型型7505-k007
薄膜厚度自动量测系统
7505-K007型
适用于卷到滚动印刷,,薄膜等等薄膜印刷制程检测检测检测
线上型印刷自动光学系统系统模型7505-k009
线上型品质自动光学系统系统
7505-K009型
适用于电池前段其他涂布相关印刷检测检测检测
多模型7505-01
多功能光学系统
型号7505-01
  • 一机具备1d,2d 、3d量测量测能力
  • 具备膜测功能(1d),使用使用量测,可量测,可进行膜厚量测厚量测
  • 使用高扫瞄相机,可可高速高速高速,可瑕疵量测,可可,刮伤瑕疵瑕疵
  • 使用白光技术,可可进行进行进行进行三维形貌量测三维形貌量测
线上型模型7505-02
线上型自动化光学系统
7505-02型
  • 适用于ITO(氧化二锡)薄rfid fpc等等(滚动到滚动)制程制程实时光学检测检测检测检测
  • 配备高扫描相机,可检出气泡刮伤脏污瑕疵瑕疵瑕疵
  • 使用多同时进行取像,检测检测快快快
  • 配备位置反馈系统,可可精确清晰的图像图像
微调背光背光自动光学系统系统系统系统系统系统系统系统系统
迷你LED背光背光自动系统系统系统
7661-K003
  • 结合71803-2二维二维分析仪针对针对针对针对led亮度亮度色彩,分析分析
  • 量侧:色度,,光强度,,,,电流,,死死
  • 可色色LED电源电源及模块整合整合系统方案方案方案