薄膜厚度自动光学量型型号7505-k007

薄膜厚度自动光学量系统
产品特性
  • 滚动卷滚动印刷程程,薄膜等薄膜制程厚度检测
  • 使用3D光学探头,进行非破坏性,快速表面厚度测与分享
  • 使用陶瓷陶瓷平衡,可口含物吸附于平面上使表面平等,亦不少含有造皱褶或
  • 3D厚度量测大大
  • 可量测明材质
  • 高度量重复精锐精选
  • 高动词量重复精锐精选
  • 具体款本页功能可行自行动力卷

Chroma 7505-K007薄膜厚度自动光学检测检测主要综合3D光学探头,行流非破坏性,快速表面厚度测与卷,卷卷印刷程进程,薄膜等等制程厚度。,可将将物吸附于平等上使表面平整,亦不夹肉类造成皱褶或,3d厚度量范围大,设备静态重复精密高位设备动词重复精密高,具体配方功能可行的自行运动[


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