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SoC测试系统
先进SoC/模拟测试系统
型号3680
- 24个可互换槽用于数字，模拟和混合信号的应用
- 150 Mbps至1Gbps数据速率(muxed)
- 多达512个站点并行测试
- 多达2048个数字I/O引脚
先进SoC/模拟测试系统
型号3650
- 应用范围:MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC，以及各种消费类产品
- 可扩展平台，多达640个通道
- 50/100 MHz, 200 MHz (MUX)测试速率
- 各种高密度选项，从模拟，ADDA，混合信号，TIA
先进SoC/模拟测试系统
模式3650 -前
- 应用范围:MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC，以及各种消费类产品
- 可扩展平台，多达1024个IO通道和96个DPS
- 50/100 MHz, 200 MHz (MUX)测试速率
- 多种高密度选项包括VI45, PVI100, HDADDA和MRX
VLSI测试系统
VLSI测试系统
模型3380便士
- 100Mhz时钟速率，512 I/O通道(最大576引脚)
- 多达512个站点并行测试
- 各种VI源
- 灵活的架构:插槽可互换的I/O, ADDA, VI源
VLSI测试系统
型号3380
- 100Mhz时钟速率，1024个I/O通道(最大1280个引脚)
- 多达1024个站点并行测试
- 各种VI源
- 灵活的架构:插槽可互换的I/O, ADDA, VI源
IC拣放处理程序
混合单站点测试处理程序
型号3110
- 可选三温IC测试功能(标准:-40℃~135℃，可选:-55℃~150℃)
- FT+SLT处理器(二合一)
- 完美的设备工程特性收集和分析
- 自动托盘装载/卸载和设备分类能力
- 零等待时间
计量系统
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